Traitement en cours...
Fermer la notification

SIDE vous souhaite une année 2026 réussie. Nous ferons tous nos efforts pour y contribuer.

Afficher la notification
FR EN
Précédent
ou effectuer une recherche avancée
Votre panier est vide.
Image de Caractérisation et nettoyage du silicium : caractérisation physico-chimique et nettoyage par voie humide

Caractérisation et nettoyage du silicium : caractérisation physico-chimique et nettoyage par voie humide

WYON Christophe, TARDIF François, BAUDRANT Annie
Date de parution 29/01/2003
EAN: 9782746206052
Disponibilité Disponible chez l'éditeur
67,00 €
Informations détaillées
Nom d'attributValeur d'attribut
Common books attribute
ÉditeurHERMES SCIENCE
Nombre de pages-
Langue du livreFrançais
AuteurWYON Christophe, TARDIF François, BAUDRANT Annie
FormatBook
Type de produitLivre
Date de parution29/01/2003
Poids510 g
Dimensions (épaisseur x largeur x hauteur)1,00 x 16,00 x 24,00 cm