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Guide d'étalonnage des spectrophotomètres

CFM (Collège Français de Métrologie)
Date de parution 28/09/2017
EAN: 9782124656059
Disponibilité Disponible chez l'éditeur
Ce guide s'adresse aux personnels des entreprises et des laboratoires d'analyses en charge du suivi métrologique des spectrophotomètres. Il a pour objectif d'aider à la compréhension du processus d'étalonnage et à l'exploitation du certificat d'étalo... Voir la description complète
Nom d'attributValeur d'attribut
Common books attribute
ÉditeurAFNOR
Nombre de pages80
Langue du livreFrançais
AuteurCFM (Collège Français de Métrologie)
FormatPaperback / softback
Type de produitLivre
Date de parution28/09/2017
Poids404 g
Dimensions (épaisseur x largeur x hauteur)0,70 x 21,00 x 29,80 cm
Ce guide s'adresse aux personnels des entreprises et des laboratoires d'analyses en charge du suivi métrologique des spectrophotomètres. Il a pour objectif d'aider à la compréhension du processus d'étalonnage et à l'exploitation du certificat d'étalonnage. Le guide a été rédigé de manière à ce que tout lecteur puisse comprendre le processus d'étalonnage expliqué. Le processus d'étalonnage est décrit puis illustré par des exemples concrets. Ce document apporte aux lecteurs des recommandations sur les bonnes pratiques concernant l'étalonnage des spectrophotomètres, sur un domaine allant de l'ultraviolet (UV - depuis 190 nm) au proche infrarouge (PIR - jusqu'à 2500 nm), en passant par le visible. Ce guide aborde exclusivement le domaine de la spectrophotométrie d'absorption moléculaire dispersive (UV-Visible, PIR) et ne traite pas des autres types de spectrophotométrie (colorimétrie, fluorescence, turbidimétrie, néphélométrie, spectrophotométrie d'absorption atomique ). Le périmètre est volontairement limité à la partie instrumentale. Ce guide a été rédigé par un groupe de travail du Collège Français de Métrologie (CFM). Déjà publié par le CFM, il est aujourd'hui réédité par le CFM et AFNOR Éditions dans le cadre de la collection "Les Guides Techniques du Collège Français de Métrologie".